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Circuit and architectural techniques for minimum-energy operation of SRAM-based caches

  • To continue reducing voltage in scaled technologies, both circuit and architecture-level resiliency techniques are needed to tolerate process-induced defects, variation, and aging in SRAM cells. Many different resiliency schemes have been proposed and evaluated, but most prior results focus on voltage reduction instead of energy reduction. At the circuit level, device cell architectures and assist techniques have been shown to lower Vmin for SRAM, while at the architecture level, redundancy and cache disable techniques have been used to improve resiliency at low voltages. This paper presents a unified study of error tolerance for both circuit and architecture techniques and estimates their area and energy overheads. Optimal techniques are selected by evaluating both the error-correcting abilities at low supplies and the overheads of each technique in a 28nm. The results can be applied to many of the emerging memory technologies.

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Metadaten
Verfasserangaben:Brian Zimmer, Pi-Feng Chiu, Krste Asanović, Borivoje Nikolić
URN (Permalink):urn:nbn:de:hbz:386-kluedo-43141
Dokumentart:Konferenzveröffentlichung
Sprache der Veröffentlichung:Englisch
Veröffentlichungsdatum (online):18.03.2016
Jahr der Veröffentlichung:2016
Veröffentlichende Institution:Technische Universität Kaiserslautern
Datum der Publikation (Server):14.03.2016
Freies Schlagwort / Tag:Cache; Low Power; Low Voltage; Processors; SRAM
Seitenzahl:2
Fachbereiche / Organisatorische Einheiten:Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
CCS-Klassifikation (Informatik):B. Hardware / B.3 MEMORY STRUCTURES / B.3.0 General
DDC-Sachgruppen:6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 621.3 Elektrontechnik, Elektronik
Sammlungen:International Workshop on Emerging Memory Solutions
Lizenz (Deutsch):Standard gemäß KLUEDO-Leitlinien vom 30.07.2015